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2025-07-22

為了確保RoHS能量色散X熒光光譜儀長期穩(wěn)定運行并持續(xù)提供準確可靠的分析結(jié)果，定期的維護保養(yǎng)至關重要。本文將詳細介紹RoHS能量色散X熒光光譜儀的定期維護保養(yǎng)方法，幫助用戶延長使用壽命，保障系統(tǒng)的可靠性。1、日常檢查與清潔外觀檢查：表面清潔：每日或每周使用干凈的軟布擦拭儀器外殼，...

2022
11-17

XRF礦石分析儀測試螢石中 CaF2、SiO2、Fe2O3和 S成分? EDX9000Bplus礦石分析儀測試螢石中CaF2、SiO2、Fe2O3和S成分?螢石（Fluorite或Fluorspar或Fluor），又稱氟石、砩石，是一種礦物，其主要成分是氟化鈣（CaF2），含雜質(zhì)較多。其中的鈣常被釔和鈰等稀土元素替代，此外還含有少量的Fe2O3、SiO2和微量的Cl、O3和He等。自然界中的螢石常顯鮮艷的顏色，硬度比小刀低[1]。螢石可以用于制備氟化氫：CaF2+H2SO4→CaSO4+2HF[2]；它的色散極低，對紅外線、紫外線的透過性能高，適...
2022
11-17

XRF鍍層測厚膜厚儀應用介紹 RF鍍層測厚儀EDX-8000B涂層膜厚儀使用XRF進行涂層測量的好處準確的厚度測量有助于制造商提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，同時控制成本。涂層的厚度應與完成工作所需的一樣厚；制造涂層太厚的產(chǎn)品會增加制造成本?？蛻暨€通過確保他們收到的材料涂有正確的材料和正確的厚度來測量涂層，以對進料進行質(zhì)量控制。使用快速、高效且無損的工具有助于在產(chǎn)品線和現(xiàn)場進行質(zhì)量控制。一臺EDX8000測厚儀可以在短短10秒內(nèi)提供測試結(jié)果，并且可以通過單點校準鏡頭來完善結(jié)果，只需30秒即可完成。EDX8000膜厚儀也不會...
2022
11-16

XRF熒光光譜儀合金分析儀在鋅合金分析中的應用 XRF熒光光譜EDX9000A?合金分析儀在鋅合金分析中的應用EDX9000A合金分析儀配備一個含35種以上元素的標準包，在幾秒鐘內(nèi)可生成合金的化學成分和牌號信息。從簡單的分揀到具有挑戰(zhàn)性的牌號區(qū)分，合金分析光譜儀EDX9000A都會提供高度精細的材料化學成分，以快速準確地辨別純金屬和合金牌號。這些金屬和合金包含但不限于以下所列項目：鋁合金貴金屬鉻鉬鋼不銹鋼鈷合金工具鋼銅合金鈦合金異常合金鍛鋁合金鎂合金鋅合金鎳合金鋯合金鎳/鈷合金本案我們在X射線能量色散熒光光譜分析(XRF)...
2022
11-16

XRF合金分析儀用溶片玻璃法分析錳鐵錳硅和金屬錳 XRF熔片玻璃法分析錳鐵,錳硅合金和金屬錳---EDX9000A合金分析儀硅鐵和硅錳合金是鋼鐵冶煉主要的添加劑和脫氧劑，準確的測定其中各個元素是十分必要的。作為合金分析通常采用化學分析方法測定主量元素硅和錳，采用ICP原子發(fā)射光譜儀測定其中的各雜質(zhì)元素，就其方法而言化學分析方法耗時較長，操作繁復，ICP分析時間長，而且需要進行試樣分解。通過大量的實驗研究確定了試樣粒度、樣環(huán)的材質(zhì)、樣片的制備方法、測定條件等采用XRF熔片法測定硅鐵和硅錳合金，可以直接玻璃熔片法，同時進行主量元...
2022
11-16

XRF鍍層測厚儀在金屬鍍層定量定性分析中的應用 XRF熒光膜厚儀鍍層測厚儀EDX8000B在金屬鍍層定性和定量分析中的應用?X射線熒光光譜(XRF)鍍層測厚儀EDX8000B廣泛應用于在鍍層中的定性和定量分析。我們對檢測步驟進行了測量和優(yōu)化.該方法采用每個元素*的特征X射線來確定是否沉積上某種元素;利用FP法快速測定一組在不同濃度的電解液中電沉積所得鍍層中的銅元素含量,結(jié)果表明該方法可以快速測定鍍層中元素含量的變化,該方法具有測試準,投入少,易掌握,速度快等特點X-RAY測厚儀EDX8000B的基本原理X射線廣泛用于各種無...
2022
11-16

XRF多元素成分分析儀在選礦尾礦上的應用硅鐵，鈣鐵，鐵紅，磁鐵礦，錳鐵，鉻鐵，鉬鐵，鈦鐵，釩鐵分析儀EDX9000B多元素分析儀?英飛思EDX9000B光譜儀主要應用于在采礦過程的所有階段進行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦，從選礦到尾礦，EDX9000B都在苛刻的采礦環(huán)境中均具有出色的靈活性，分析性能和穩(wěn)定性。EDX9000B專注于對地質(zhì)材料的主量，微量和痕量元素進行定性和定量分析，其中包括：?鐵礦?銅礦?鋁土礦?貴金屬礦產(chǎn)?稀土礦?原料?磷酸鹽?煤炭?鉛鋅礦?錳礦?鎳礦?石灰石?粘土?石膏?玻璃?土壤?水...
2022
11-16

熒光光譜測金儀可通過這些方法分離熒光熒光光譜測金儀是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法，是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分析，特別是在金屬，玻璃，陶瓷和建材的調(diào)查和研究，地球化學，法醫(yī)學，考古學和藝術(shù)品，例如油畫和壁畫。該儀器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強度準確性和波長準確性以及強的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩(wěn)定性，在儀器的軟件上，要求能夠進行導數(shù)、去卷積等復雜的數(shù)學計算，能夠計算光譜間相似度、模式識別分析、支持多元校正分析和用戶自建譜庫并進行檢索。熒...

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