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EDX-5000能量色散X熒光光譜儀-合金檢測(cè)

簡(jiǎn)要描述:EDX-5000能量色散X熒光光譜儀-合金檢測(cè)
作為一款專(zhuān)業(yè)為合金元素分析而設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的光譜儀,EDX-9000A兼顧了耐用性,易于操作和高性?xún)r(jià)比。

  • 產(chǎn)品廠(chǎng)地:蘇州市
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-10-29
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:923

詳細(xì)介紹

品牌英飛思行業(yè)專(zhuān)用類(lèi)型通用
價(jià)格區(qū)間面議儀器種類(lèi)臺(tái)式/落地式
應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,石油,地礦,電子,綜合

EDX-5000能量色散X熒光光譜儀-合金檢測(cè)

Simply the Best

>一臺(tái)無(wú)需氬氣和氦氣消耗的高性能合金元素分析光譜儀XRF Analyzer

>媲美直讀光譜儀的檢測(cè)性能,*的無(wú)損分析(無(wú)需破壞樣品)

>真空測(cè)試環(huán)境提供最佳輕元素檢測(cè)效果(Na,Mg,Al,Si,P

>高分辨SDD檢測(cè)器一次測(cè)試可覆蓋多達(dá)40種元素

>無(wú)需每天重復(fù)標(biāo)定,快速分析,簡(jiǎn)單易用

>多組合濾光片系統(tǒng),有效提高微量元素檢出限

>堅(jiān)固耐用,適用于于各種復(fù)雜而嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)工作環(huán)境

>ji高的性?xún)r(jià)比

EDX9000A能量色散熒光光譜儀-合金元素牌號(hào)分析專(zhuān)家

合金分析是鑒定樣品化學(xué)成分的過(guò)程。使用X射線(xiàn)熒光(XRF光譜儀,不僅能快速確定合金牌號(hào)PMIPositive material identification),而且能準(zhǔn)確得到整個(gè)合金材料的元素組成。EDX9000A已廣泛用于各種需要合金成分分析的行業(yè),從航空航天測(cè)試,原材料分析,質(zhì)量控制,冶煉,金屬加工,焊接廢料回收和快速分類(lèi)篩檢等領(lǐng)域

作為一款高性能的臺(tái)式能量色散X射線(xiàn)熒光光譜儀,新款EDX9000A配置了zuixian進(jìn)的基于Windows基本參數(shù)算法的FPFundamental parameter)軟件FP軟件是合金分析的bi備條件之一,FP算法能大幅降低合金樣品中各金屬元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng),從而來(lái)滿(mǎn)足客戶(hù)對(duì)于各類(lèi)復(fù)雜合金樣品的元素分析需求

EDX9000A結(jié)合了最新的樣品激發(fā)和信號(hào)檢測(cè)技術(shù),使得它的分析性能可以與實(shí)驗(yàn)室分析結(jié)果相媲美。通過(guò)配備不同濾光片和光路準(zhǔn)直器,高功率X射線(xiàn)管,以及美國(guó)AmptekSDD硅漂移檢測(cè)器,EDX9000A實(shí)現(xiàn)了zuiyou化的硬件組合。

選擇金屬合金分析儀時(shí),客戶(hù)通常會(huì)重點(diǎn)關(guān)注測(cè)試準(zhǔn)確性,分析速度和設(shè)備耐用性,而EDX9000A是對(duì)上述三點(diǎn)指標(biāo)的wan美體現(xiàn)。同時(shí),該光譜儀能同時(shí)對(duì)多種不同類(lèi)型的合金進(jìn)行快速定性定量分析,包括:

鎂合金 鋁合金 鈦合金 高合金鋼 中低合金鋼 工具鋼 貴金屬

鈷合金 鎳合金 銅合金 鋅合金 貴重合金 黃銅 青銅 焊錫

EDX9000A操作簡(jiǎn)單,分析性能出色,還可拓展到以下應(yīng)用

>涂層厚度和薄膜:分析多層涂層,鋼涂層,雜質(zhì)等

>電鍍液元素分析

>催化劑貴金屬元素分析

EDX-5000能量色散X熒光光譜儀-合金檢測(cè)

產(chǎn)品特點(diǎn)

作為一款專(zhuān)業(yè)為合金元素分析而設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的光譜儀,EDX-9000A兼顧了耐用性,易于操作和高性?xún)r(jià)比。其顯著優(yōu)勢(shì)主要有

---全程無(wú)損分析,一到三分鐘即可出結(jié)果(可實(shí)時(shí)刷新測(cè)試結(jié)果)

更準(zhǔn)---強(qiáng)大的基于Windows的FP(基本參數(shù)算法)軟件降低了基體元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng),并同時(shí)考慮到不同基體對(duì)光譜強(qiáng)度變化的干擾,把測(cè)試準(zhǔn)確度提高到了新的水平

更穩(wěn)---使用最新的硅漂移檢測(cè)器SDD可得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性,該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得更高的光譜強(qiáng)度(計(jì)數(shù)率CPS)。du特的多道分析器DPP可實(shí)現(xiàn)超過(guò)100,000 cps的線(xiàn)性計(jì)數(shù)速率而同時(shí)保證zuiyou的光譜分辨率,通常優(yōu)于130 eV,以更好地分離不同元素的光譜。與傳統(tǒng)的EDXRF臺(tái)式儀器相比,EDX9000A光譜儀可以全功率運(yùn)行,因此實(shí)現(xiàn)了更精準(zhǔn)的測(cè)試表現(xiàn)

無(wú)需消耗昂貴的氬氣或者氦氣,極大的降低了儀器的使用和維護(hù)成本

無(wú)需或者很少的樣品制備,通常簡(jiǎn)單的拋光樣品表面后即可上機(jī)測(cè)試

不需要每天標(biāo)定儀器,開(kāi)機(jī)即可檢測(cè),大大提高生產(chǎn)效率,并降低了對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的依賴(lài)

多重儀器硬件保護(hù)系統(tǒng),并可通過(guò)軟件進(jìn)行全程實(shí)時(shí)監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

特別設(shè)計(jì)的光路和真空系統(tǒng)提高了輕元素的測(cè)試靈敏度3-5倍(Na, Mg, Al, Si, P)

友好的用戶(hù)界面,可定制的分析報(bào)告,可一鍵打印測(cè)試報(bào)告,包括分析結(jié)果,樣品信息,光譜信息和樣品圖像

•八種光路準(zhǔn)直系統(tǒng),根據(jù)不同樣品大小自動(dòng)切換亦可測(cè)試樣品不同位置再求平均值,降低樣品不均勻性造成的誤差

高清內(nèi)置攝像頭,清晰地顯示儀器所檢測(cè)的樣品部位

合金元素檢測(cè)專(zhuān)家EDX9000A

>儀器參數(shù)

儀器外觀尺寸: 560mm*380mm*410mm

超大樣品腔:460mm*310mm*95mm

半封閉樣品腔(抽真空時(shí)):Φ150mm×75mm

儀器重量: 45Kg

元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

探測(cè)器:AmpTek 高分辨率電制冷SDD硅漂移檢測(cè)器

多道分析器: 4096DPP analyzer 分析器

X光管:50W高功率鈹窗光管

高壓發(fā)生裝置:電壓最大輸出50kV自帶電壓過(guò)載保護(hù)

電壓:220ACV 50/60HZ

環(huán)境溫度:-10 °C 35 °C


儀器配置

>標(biāo)準(zhǔn)配置

>可選配置

Ag初始化標(biāo)樣

交流凈化穩(wěn)壓電源

真空泵

合金標(biāo)樣

樣品杯


USB數(shù)據(jù)線(xiàn)


電源線(xiàn)


測(cè)試薄膜


儀器出廠(chǎng)和標(biāo)定報(bào)告


保修卡



功能強(qiáng)大而界面友好的測(cè)試軟件

圖片3.png


界面清晰易用。一鍵測(cè)試,簡(jiǎn)單易用,無(wú)需手動(dòng)選擇工作曲線(xiàn),軟件自動(dòng)匹配樣品基體,即使非專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員也能快速掌握儀器使用

chao強(qiáng)基本參數(shù)FP和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法EC的wan美結(jié)合不僅可以分析高純合金,也可以對(duì)基體復(fù)雜的多雜質(zhì)樣品進(jìn)行定性定量分析。FP參數(shù)算法的應(yīng)用,也使得儀器對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的依賴(lài)度大大降低。

>一鍵初始化儀器,基體自動(dòng)匹配

>自動(dòng)定性,半定量和定量分析不同樣品測(cè)試譜圖可實(shí)時(shí)對(duì)比

>光譜處理和校正,去除雙倍峰和逃逸峰干擾,降低元素吸收增強(qiáng)效應(yīng)影響

>光譜背景扣除,有效提高微量元素檢測(cè)精度

>可實(shí)時(shí)刷新測(cè)量結(jié)果

>簡(jiǎn)單的流程欄向?qū)Э?/span>幫助用戶(hù)創(chuàng)建新的自定義標(biāo)定曲線(xiàn)

>可定制化測(cè)試報(bào)告,一鍵打印

黃銅樣品10次測(cè)試穩(wěn)定性報(bào)告

工作
曲線(xiàn)

測(cè)量
次數(shù)

Cu(%)

Zn(%)

Pb(%)

Mn(%)

Ni(%)

Fe(%)

Sn(%)

Al(%)

P(%)

Si(%)

Sb(%)

Bi(%)

As(%)

黃銅

1_10

59.0128

36.2372

2.0823

0.1235

0.3024

0.3031

0.7586

0.3375

0.0866

0.3733

0.355

0.0204

0.0003

黃銅

1_9

58.9989

36.2159

2.1118

0.1135

0.2851

0.3298

0.7365

0.3205

0.0942

0.3872

0.3761

0.0225

0.0007

黃銅

1_8

58.9363

36.3134

2.1095

0.1116

0.2764

0.3256

0.7167

0.3307

0.0839

0.3956

0.3709

0.0222

0.0003

黃銅

1_7

58.9618

36.3151

2.103

0.1251

0.3174

0.3149

0.7343

0.3179

0.0871

0.3212

0.3723

0.0226

0.0004

黃銅

1_6

58.9397

36.2636

2.0946

0.1162

0.3051

0.3265

0.7381

0.3368

0.0972

0.4096

0.3686

0.0232

0.0006

黃銅

1_5

58.9867

36.2379

2.0862

0.1136

0.2856

0.3264

0.7457

0.3479

0.0981

0.3881

0.3591

0.0213

0.0004

黃銅

1_4

58.8972

36.3653

2.1121

0.1312

0.2933

0.3169

0.7561

0.3166

0.0895

0.3403

0.3649

0.0208

0.0005

黃銅

1_3

58.9047

36.3033

2.1394

0.1138

0.3035

0.3241

0.7579

0.3079

0.0794

0.3769

0.3602

0.0217

0.0004

黃銅

1_2

58.9367

36.3273

2.1105

0.1168

0.2946

0.3189

0.7593

0.3133

0.0866

0.3525

0.3564

0.0197

0.0005

黃銅

1_1

58.9388

36.3385

2.1101

0.1154

0.2968

0.3264

0.7456

0.2992

0.0874

0.3418

0.3722

0.0201

0.0007

平均值
Average

58.9514

36.2918

2.1060

0.1181

0.2960

0.3213

0.7449

0.3228

0.0890

0.3687

0.3656

0.0215

0.0005

標(biāo)準(zhǔn)偏差
SD

0.0384

0.0499

0.0161

0.0064

0.0118

0.0080

0.0138

0.0151

0.0059

0.0284

0.0075

0.0012

0.0001

相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD

0.0651%

0.1376%

0.7638%

5.3900%

3.9955%

2.4879%

1.8532%

4.6653%

6.6283%

7.7002%

2.0484%

5.5041%

30.7444%


 

 

 

 

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