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XRF多元素分析儀在礦石分析檢測中的應用

更新時間:2022-10-26      點擊次數(shù):912

多元素分析儀XRF光譜EDX9000B-plus無損快速分析檢測各類礦石礦產(chǎn)樣品

 

元素分析儀,是指同時或單獨實現(xiàn)樣品中多種種元素的分析的儀器。各類元素分析儀雖結構和性能不同,而性能各異。新款元素分析儀EDX9000B基于XRF光譜無損檢測技術,已越來越受到市場歡迎。

英飛思科學儀器的元素分析儀EDX9000B,從2016年開始商業(yè)化發(fā)布。2017年底推出的最新型號9000Bplus ,集十多年的專業(yè)技術經(jīng)驗、創(chuàng)新、科技進步于一體的全新一代元素分析儀。

目前擁有眾多客戶和良好口碑,是目前市場上可靠和準確的元素分析儀之一。

 

應用領域:

EDX9000B plus元素分析儀應用范圍廣泛,適合有石化、農業(yè)、食品、海洋、能源,無機化學、制藥、材料、環(huán)境、及石油化工等領域的分析。

 

元素分析——滿足實驗需求

EDX9000B plus優(yōu)秀的分析性能,使其可以輕松完成對以下礦種的測試:

鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)

銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)

鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)

鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)

鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)

鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)

鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)

鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)

鋁土礦

其它礦類

產(chǎn)品特點

1.小型化、高性能、高速度、易操作,Na11-U92高靈敏度、高精度分析

2.可同時分析40種元素

3.采用多準直器多濾光片和扣背景技術

4. Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率

5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設計,雙真空抽速機構,真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)

6.標配基本參數(shù)法軟件,多任務,多窗口操作

7.薄膜濾光片技術,有效提高輕元素檢出限

元素分析儀EDX9000B plus參數(shù)指標

儀器外觀尺寸: 565mm*385mm*415mm

超大樣品腔:465mm*330mm*110mm

半封閉樣品腔(抽真空時):Φ150mm×高75mm

儀器重量: 48Kg

元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

探測器:AmpTek 超高分辨率電制冷Fast SDD硅漂移檢測器

探測器分辨率:122 eV FWHM at 5.9 keV

處理器類型:全數(shù)字化DP-5分析器

譜總通道數(shù):4096道

X光管:高功率50瓦光管(進口管芯),冷卻方式:硅脂冷卻

光管窗口材料:鈹窗

準直器:多達8種選擇,最小0.2mm

濾光片:7種濾光片的自由選擇和切換

高壓發(fā)生裝置:原裝美國高壓,電壓輸出:0-50kV;輸出電流:0-1mA

高壓參數(shù):最小5kv可控調節(jié),自帶電壓過載保護,輸出精度:0.01%

樣品觀察系統(tǒng):500萬像素高清CCD攝像頭

電壓:220ACV 50/60HZ

環(huán)境溫度:-10 °C 到35 °C

 

 

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