壓片法相對于粉末樣品直接測試用于XRF熒光光譜儀有什么優(yōu)勢？

X射線熒光光譜法（XRF）對樣品材料的制備高度敏感。壓片的水泥樣品顯示出較高的信噪比，與松散粉末形式相比，這可以檢測最輕的元素。

當(dāng)定量元素組成時(shí)，在預(yù)期值和散粉樣品之間觀察到明顯的差異。當(dāng)使用同一批水泥來制備壓制顆粒時(shí)，這些差異會(huì)消失。

XRF光譜分析信號(hào)由兩個(gè)部分組成：

在特征波長處的X射線發(fā)射峰與所分析樣品的原子內(nèi)發(fā)生的電子躍遷相對應(yīng)

由松散結(jié)合的外部電子散射的X射線的連續(xù)背景，在該電子上疊加了發(fā)射峰

這些特征性X射線通常是由于樣品表面以下1-1000 µm深度處的表面原子所致。 確切的深度取決于其原子量。 如果元素較輕，則較重元素更難檢測。

背景散射和發(fā)射峰的強(qiáng)度均受粒度，礦物成分和顆粒密度的影響。 但是，將樣品研磨至非常細(xì)的顆粒大小，然后壓縮成光滑平整的XRF顆粒，可以減少背景散射并改善對排放物的檢測。

顆粒和散粉中重元素和輕元素的比較

使用疏松粉末獲得的光譜顯示出與壓片的顆粒明顯不同。 顆粒顯示出更高的信噪比，這使得最輕的元素可以輕易地在背景之上被檢測到。 由于不需要薄膜，因此可以在真空條件下進(jìn)行測量，從而進(jìn)一步改善了顆粒的性能。

對于準(zhǔn)確定量至關(guān)重要的是，用戶可以清楚地檢測出樣品中的所有元素。 在散粉樣品中，較輕的Al，Mg和Na元素的低估會(huì)導(dǎo)致水泥中Fe和Ca的高估。 另一方面，樣品沉淀物提供的定量與標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室實(shí)驗(yàn)確定的范圍一致。